MVG多探头系统是根据客户的测试几何要求（球形、圆柱形、平面）、DUT尺寸、重量和要测试的频率建立的。
选择不同的几何形状以及不同配置的探头和探头阵列，以获得最快、最智能、最准确的测试系统，满足您的天线测量需求。
快捷
更快的测量时间可以加快整个天线开发过程。通过MV-ScanTM，MVG专利技术，探头阵列被电子扫描，提高了测量速度，同时也提高了测量精度。探头阵列的使用大大减少了完成测试所需的探头/被测物位置的数量。
智能
MVG多探头近场天线测量系统提供专利的超采样功能。过度取样结合了定位器的自动精确机械运动，或与探头阵列的电子扫描相结合，以实现无限的扫描分辨率。
精确
高水平的准确性和可重复性仍然是日益复杂的测试的绝对必要条件。MVG通过对系统误差预算的精确了解、对比研究、最小化的机械运动和持续的探头校准，确保其系统的测量精度。
了解我们最新的信息图，以帮助您根据您的天线测试要求匹配最合适的MVG球形近场测试系统。
