超采样和多探头球面近场测量系统
在球面近场天线测量中，表征所需的样本数量是DUT（被测设备）的频率和物理尺寸的函数。这个样本数量必须符合奈奎斯特准则，该准则定义了围绕DUT的最小球体上的测量点（样本）之间的间距小于半个波长。这就设定了要测量的最小数量的点。只有这样，近场的采样才足以完全处理远场。
在由多探头测试系统进行的球形天线测量中，DUT在方位角上旋转，而设备周围的电磁场同时被多探头阵列扫描。
阵列的两个探头之间的角度间隔，例如MVG SG 64的角度间隔为5.29°，适合于低频的中小型天线测试。然而，对于大型天线和/或工作在更高频率的天线，如毫米波，需要更多的测量点，或样本，以尊重奈奎斯特准则。过度取样是关键。
过度取样通过对DUT定位器或探头阵列进行轻微的机械旋转来创造额外的虚拟探头。这两种过采样技术都是使用MVG的专利技术。这种旋转（SG 64最大为±2.6°）加上探针阵列的额外电子扫描，引入了更多的数据收集点，形成了完整的测量球面，从而获得了精确的分析能力。
使用DUT定位器的过采样需要将设备围绕其相位中心倾斜，对于相对较轻和平衡的设备，功能很好。对于大的、重的或长方形的天线和/或在毫米波频率下工作的设备，通过探头阵列的仰角旋转进行过采样，确保DUT在测试期间不经历重力偏移。这提供了最高的精度，以满足最佳的测量性能。
SG EVO是最新的MVG SG系统，集成了探头阵列的超采样功能。它最适合于重型DUT和高精确度的应用。
无限的超采样能力与SG Evo或SG 64的电子扫描探头阵列同步，可在几分钟内获得快速、准确的天线测量结果。
